Металлургический словарь


Металлография

[metallography] — наука о структуре металлов и сплавов; сост. часть металловедения. М. зародилась и начала развиваться как научная дисциплина с того времени, когда П. П. Аносов впервые приготовил на Златоуст, з-де в 1831 г. микрошлиф, подверг его травлению и использовал микроскоп для изучения структуры булатной стали. Соврем, м. изучает закономерности образования структуры, исследуя макро- и микроструктуры металла (невооруж. глазом либо с использ. светового и эл-нного микроскопов), а тж. изменения механич., электрич., магн., тепловых и др. физич. св-в металла в завис, от изменения его структуры. Для изучения микроструктуры используют, кроме того, рентг. дифракц. микроскопию (см. Рентгеноструктурный анализ).
Макроструктура хар-ризуется формой и располож. крупных кристаллов (зерен), дефектов металлов, распредел. примесей (см. Ликвация) и неметаллич. включений. Микроструктура металлов определ. формой, размерами, кол-вом и взаим. располож. кристаллов отд. фаз или их совокупностей, имеющих одинак. морфологию. Под тонкой структурой (субструктурой) понимают строение отд. зерен, определ. расположением дислокаций и др. дефектов кристаллич. решетки.
Кроме закономерн. образов, структуры, м. изучает условия и причины возникн. при кри-сталлиз., пластич. деформации и рекристал-
лиз. текстуры металлов, к-рая обусловл. анизотропию св-в поликристалич. материала:
количественная металлография [quantitative metallography] — раздел металлографии, изуч. кол-венные хар-ки элементов структуры металлов и сплавов. Первые попытки применения к. м. были предприняты П. П. Амосовым, к-рый ввел полукол-венную шкалу для оценки кач-ва стали по ее макростроению. Но наст, развитие к. м. стало возможным только в 1930-40-х гг. после разработки стереоло-гич. методов, позвол. реконструир. пространств, структуру с помощью простых измерений в плоскости наблюдения (см. Сте-реология). На этом этапе развития применяли ручные методы точеч. или линейного анализа. В послед, годы стремление к уменьш. трудоемкости и повыш. точности статич. измер. привело к созданию сначала механич. измерит, систем, затем эл-ных и, наконец, устр-в на базе ЭВМ — автоматич. анализаторов изображений (ААИ). Развитие к. м. в н.в. достигло уровня, когда измерения на ААИ разных типов и в разных лабораториях могут давать одинак. рез-ты. Для обеспеч. унификации измерений под эгидой ISO разрабат. нормативы на требования к приборам и методам измерений, а тж. к подготовке шлифов. Дальнейшим развитием этих работ станет создание единых стандартов на методы к. м. с использ. ААИ.